美国博曼膜厚测试仪的技术资料

PCB镀层膜厚测试仪 原产国：美国 博曼x-ray膜厚测试仪采用了全新设计的发生器，全新设计的光学编码定位系统测角仪，全新优化设计的光路系统，基于当前最先进的电子技术全新设计的电路板，仪器小巧，结构紧凑，灵敏度高，性价比最好。她完全突破了X射线荧光仪早期技术和相应理论基础上多年形成的传统观念，以全新理念实现了样品分析自动化、操作简单化、检测分析智能化、数据结果最优化、体积小型化、功能最大化的一次成功尝试。 应用领域 理论上讲，我们的光干涉膜厚仪可以测量所有透光或半透光薄膜的厚度。高精度博曼探测器膜厚测试仪应用于(五金,电镀,端子.连接器.金属，PCB等多个领域) 博曼（Bowman）X-RAY膜厚测试仪提供： （1）无损分析：无需样品制备 （2）经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益 （3）操作简单，只需要简单的培训 （4）分析只需三步骤 （5）杰出的分析准确性和精确性 （6）在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验 （7）使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。 博曼（Bowman）X-RAY膜厚测试仪可分析的样品种类繁多，包括固体、液体、粉末、糊状物、薄膜等，检测从ppm级至高达百分含量的浓度范围，覆盖元素周期表中从AL13到U92间的元素。 它的优势有高性能、高精度、长期稳定性：快速精确的分析带来生产成本最优化，精确测定元素厚度，优化的性能可满足广泛的元素测量.坚固耐用的设计：可靠近生产线或在实验室操作.