超薄Au-Pd-Ni镀层层厚分析
- 类别:分析方法/应用文章
- 上传人:铂悦仪器
- 上传时间:2013/11/18 16:50:52
- 文件大小:3799K
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简介:
本报告所述测量采用了两台专门适用于此等测量的布鲁克X射线荧光光谱仪完成:M1 MISTRAL SDD与M4 TORNADO.这两台仪器均配有硅漂移探测器(SDD),可提供好极好能量分辨率(~145eV)与谱峰/背体比例。
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