超薄Au-Pd-Ni镀层层厚分析

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:铂悦仪器
  3. 上传时间:2013/11/18 16:50:52
  4. 文件大小:3799K
  5. 下载次数:7
  6. 消耗积分 : 免积分

收藏

简介:

本报告所述测量采用了两台专门适用于此等测量的布鲁克X射线荧光光谱仪完成:M1 MISTRAL SDD与M4 TORNADO.这两台仪器均配有硅漂移探测器(SDD),可提供好极好能量分辨率(~145eV)与谱峰/背体比例。

打开失败或需在电脑查看,请在电脑上的资料中心栏目,点击"我的下载"。建议使用手机自带浏览器。

  • 注意:
  • 1、下载文件需消耗流量,最好在wifi的环境中下载,如果使用3G、4G下载,请注意文件大小
  • 2、下载的文件一般是pdf、word文件,下载后如不能直接浏览,可到应用商店中下载相应的阅读器APP。
  • 3、下载的文件如需解压缩,如果手机没有安装解压缩软件,可到应用商店中下载相应的解压缩APP。