MicOS应用于III-V族半导体材料光致发光及微结构检测

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:HORIBA
  3. 上传时间:2014/2/11 14:45:48
  4. 文件大小:1455K
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简介:

1、能与多个激发波长匹配 2、内置数码相机设计,可实时观察样品 3、可提供物镜朝下或物镜侧向的两种配置选择,便于测量侧向发光器件或放置在正置低温恒温器中的样品

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