MicOS应用于III-V族半导体材料光致发光及微结构检测
- 类别:分析方法/应用文章
- 上传人:HORIBA
- 上传时间:2014/2/11 14:45:48
- 文件大小:1455K
- 下载次数:11
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消耗积分 : 免积分
简介:
1、能与多个激发波长匹配
2、内置数码相机设计,可实时观察样品
3、可提供物镜朝下或物镜侧向的两种配置选择,便于测量侧向发光器件或放置在正置低温恒温器中的样品
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