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锤子
光电二极管阵列检测器新分析方法i-DReC的原理及概要
- 类别：分析方法/应用文章
- 上传人：上海纳锘实业
- 上传时间：2014/2/13 10:11:50
- 文件大小：364K
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简介：
摘要： 在高浓度样品的分析中，如使用光电二极管阵列检测器的新数据分析方法—动态量程扩展功能i-DReC（Intelligent Dynamic Range Extension Calculator），即使检测器的信号处于饱和浓度区域，也可以利用光谱的相似性自动求取峰面积和峰高。当PDA检测器数据的峰值强度超过既定阈值时，i-DReC用自动位移至吸收较少的波长所获得的色谱求取峰面积和峰高，根据光谱数据来校正波长间的灵敏度比，计算目的波长的峰面积和峰高。i-DReC是使动态量程得到飞跃性扩展的新分析方法。对必须稀释的传统高浓度样品也可以无需稀释地进行分析，获得准确的定量值。 上海纳锘--为您提供纳米级专业细致服务！ 如欲了解更多该产品信息，可来电咨询 。 ---------------------------------------------------------------------——— 上海纳锘实业有限公司 地址：上海市闵行区金都路1165弄123号21幢综合楼5001室 电话：021-60900829，60900830，61131031,61131051 传真：021-61131052 邮箱：info@nano-instru.com 网址：www.nano-instru.com
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