粗糙度测量仪P3

产品简介： P3型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，符合国际标准ISO25178，用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等任意样品，不收材料形状及颜色的限制。 产品特性: 1. 测量具有非破坏性：采用白光共聚焦技术，可获得纳米级分辨率 2. 测量范围大：15mm×15mm，无需进行图像拼接 3. 可测样品的最大坡度：87oC 4. 测量范围广：可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品 5. 不受环境光的影响 6. 不受样品反射率与形状的影响 7. 操作简单：样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪 主要技术参数： 1，扫描范围：1×1，2×2，3×3，4×4，5×5，10×10，15×15（mm） 2， 扫描步长：1×1，2×2，5×5（μm） 3， Z方向测量范围：300μm 4， Z方向测量分辨率：8nm 5， Z方向测量精度：60nm 6，横向光学分辨率：2.6μm 产品应用： MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发