AAS测量体系线性校正下的不确定度受控分析

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:怪侠一点红
  3. 上传时间:2007/3/2 21:58:07
  4. 文件大小:211K
  5. 下载次数:20
  6. 消耗积分 : 10积分 移动终端:免积分

收藏

简介:

介绍了采用原子吸收光谱仪 (AAS)对金属硅 中铁杂质含量进行测定时 。线性校正 和不确定度评估的方法.该方法的技术首先进行校正函数的线性假设和残差齐性模式下的单因素方差检验.然后考察测量系统的状态以决定系统是否需要更新.当校正函数通过一段时间的使用后,需要采用控制技术对校正曲线的有效性实施监控.本文技术的应用能展示出分析测量体系的持续能力水平,确保该水平测试下数据质量的有效性及测量系统潜在影响因素的预防。有利于统计受控状态下测量系统的不确定度评估

打开失败或需在电脑查看,请在电脑上的资料中心栏目,点击"我的下载"。建议使用手机自带浏览器。

  • 注意:
  • 1、下载文件需消耗流量,最好在wifi的环境中下载,如果使用3G、4G下载,请注意文件大小
  • 2、下载的文件一般是pdf、word文件,下载后如不能直接浏览,可到应用商店中下载相应的阅读器APP。
  • 3、下载的文件如需解压缩,如果手机没有安装解压缩软件,可到应用商店中下载相应的解压缩APP。