X荧光光谱仪

  1. 类别:仪器样本
  2. 上传人:天瑞仪器(Skyray)
  3. 上传时间:2007/3/12 14:13:08
  4. 文件大小:798K
  5. 下载次数:1298
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简介:

技术指标: 分 析 范 围: 1PPM-99.99% 同 时 分 析: 几十种元素同时分析 测镀层厚度精确至0.01微米 测 量 对 象: 固体、粉未、液体 测 量 时 间: 60-300 秒 测 量 精 度 : 0.05% 分 析 元 素: Na-U 工 作 温 度: 15-26℃ 相 对 湿 度: ≤70% 重 量 : 100KG 功 耗: 200瓦 配 置: 多样自动进样系统 计算机、喷墨打印机 真空泵(可选) 压片机(可选) 硅针半导体探测器 放大电路 高低压电源 X光管

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