使用 Agilent 7900 电感耦合等离子体质谱仪 对纳米材料进行单颗粒分析

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:安捷伦
  3. 上传时间:2014/9/5 17:12:00
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简介:

在本文中,我们使用 Agilent 7900 ICP-MS 测定单个NP 峰信号并对其性能进行了评估。7900 ICP-MS 拥有全新的正交检测器系统,积分时间可快至 100 μs,TRA 读数之间无需稳定时间,而且 TRA 模式的整体采集速度比 7700x快 30 倍,可实现瞬时信号的快速测量。

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