全反射X射线荧光光谱仪大气重金属检测

S2PICOFOX采用TXRF光谱法进行过滤器样品定性和定量分析 过滤器材料的分析对于环境和健康风险研究至关重要。出了颗粒尺寸分布和有机污染物以外，无机成分，特别是重金属成分的浓度，也需要重点关注。 出于此目的，ICP-OES或AAS等方法经常使用，但是需要耗时较长的样品消化过程。与此对比，EDXRF系统可以实现无损分析，但是检测限值和外部标定的准确性受到限制。 TXRF把EDXRF的无损样品制备和ICP-OES和AAS的灵敏性结合在一起，即使在分析过滤器中沉积的极少量样品材料时，仍然灵敏。 在本研究中，对来自欧洲不同来源的典型过滤器样品进行了定性和定量分析，样品的制备尽量快速简单。 仪器： 所有的测量均采用台式TXRF分光仪S2 PICOFOX进行。这种仪器配有一个空气冷却式低功率X射线管（钼靶）、一个80%反射率的多层单色器和一个能力分辨率＜159电子伏特（锰Kα）的无液氮式XFlash?硅漂移探测器（SDD） 样品制备和定量结果 用于过滤器材料定量制备的常规方法需要过滤器完全消化，有时需要实现进行灰化处理，或在超纯酸液中提取过滤材料 在本研究中，通过直接提取进行样品制备。 过滤器材料被转移经过彻底清洗的玻璃烧杯中，烧杯中装有5毫升超纯硝酸，在超声波浴中处理5分钟。 在所取得的提取物中，取1毫升转移到小瓶中，添加10微升内部标准溶液，均化之后，转移10微升到样品载体上，然后在干燥器中干燥。 每次提取后，制备三份样品，采用10000秒测量时间进行分析。另外，采用相同的方法制备一份过滤器空白样品，用于检测制备过程中受到的污染。