AES中的全元素深度剖析

  1. 类别:仪器样本
  2. 上传人:PHICHINA
  3. 上传时间:2014/12/23 12:26:51
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简介:

俄歇电子能谱(AES)能测量的俄歇电子只能来自样品表面约0.4-5nm的最外层,因此被称为表面分析的仪器。在实际应用中,人们还需要了解样品沿深度方向的元素分布情况,也就说需要将表面的二维分析扩展为三维深度剖析,如此仪器必须配备离子枪,对样品表面进行剥离。因为俄歇能谱仪能够控制比较小的分析面积,配上性能优越的离子枪,用溅射的方式能取得深层的元素分布情况。AES在材料分析中的应用,往往在做深度剖析时,需要预先知道一些样品的信息,及样品的膜层结构,同时也要知道每一层所含有的元素和大概的膜层厚度,以便于深度分析时,设定分析条件。

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