X射线衍衬形貌术

我们一般所熟知的关于X射线在晶体中的应用基本上都是衍射技术，而对于X射线衍射形貌术（X-ray Diffraction Topography，简称X射线形貌术，X-ray Topography）这种成像术却比较陌生。而且也不能望文生义，实际上X射线形貌术主要并不是对试样表面形貌敏感，而是用来探测试样体内晶面变化的，与透射电镜的衍衬像非常类似。不同之处主要在于（1）X射线 波长比电子波长要长得多，而且光源的发散角比较大；（2）X射线与物质的相互作用要比电子弱得多。这也就决定了X射线形貌术与透射电镜衍衬像有几个不同的方面：（1）研究的对象尺度较大，如试样厚度一般在几百微米左右，大小可以达到厘米量级，分辨率在微米及亚微米量级，但是其中缺陷密度也不能太大，适合于研究近完整的晶体试样，正好与透射电子显微术互补；（2）由（1）可知，相对于透射电镜技术，X射线形貌术的试样制备也容易得多，基本上是无损检测技术；（3）双束的条件很容易满足；（4）不能完全考虑为平面波，X射线光源存在一定的发散角，透射电子显微术中的“柱体近似”很难满足。如图2.7所示，在由透射光束方向 S0和衍射光束方向Sg所确定的Borrmann扇形ABC中都有X射线波场激发，在该扇形中任一点都可能产生干涉效应，在出射面上这些波场去耦，分别形成朝前衍射波（Forward Diffracted Wave）和衍射波（Diffracted Wave）。但是，波场在该Borrmann扇形中的分布并不是均匀的，对于弱吸收样品中经常出现所谓的边缘效应（Margin Effect），在Borrmann扇形的边缘部分波 的振幅有显著增强。而且最重要的是在Borrmann扇形中的干涉效应引起的衍衬干涉条纹，如果样品中存在较多的缺陷导致晶格畸变而完整度下降后，这些缺陷对波场的散射就破坏了Borrmann扇形中的位相关系，导致干涉条纹的迅速减弱甚至消失。因此，衍衬干涉条纹既是X 射线在晶体中发生动力学衍射的直接证明，同时又是晶体的晶格高度完整的象征。