利用Lab-X3500进行硅树脂涂层分析

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:牛津仪器
  3. 上传时间:2015/1/20 15:38:14
  4. 文件大小:213K
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简介:

涂层测厚仪LabX-3500可测量纸张(包含薄玻璃纸及单双面涂布离型纸)、橡胶、薄膜等.最佳的涂布重量可减少硅树脂的消耗,节省生产成本.

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