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锤子
扫描电镜半导体固体背散射电子探测器形貌（TOPO）模式的假象
- 类别：分析方法/应用文章
- 上传人：驰奔仪器
- 上传时间：2015/2/16 21:13:04
- 文件大小：1146K
- 下载次数：38
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简介：
北京驰奔仪器有限公司，是专业扫描电镜SEM系统销售及服务商，是进口Genesis系列小型立式扫描电镜中国独家代理。在北京设立小型立式扫描电镜演示及服务中心，为客户提供周到技术支持和服务 半导体探测器晶体常常是环形对称，信号及探测器系统分析表明，一体的探测晶体倾向于消除形貌反差，增强成分Z反差,这也是背散射探测器最大的使用价值。最早的研究者经过理论分析，认为将探测器晶体进行分割然后对称的探测信号进行代数运算，可消除成分Z反差，突出形貌反差, 各种实验研究表明，确实如此,但通过信号重构样品形貌也存在一些人工假象，需要特别注意。
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