GB-T12636-1990微波介质基片复介电常数带状线试验方法
- 类别:标准
- 上传人:北京冠测
- 上传时间:2015/3/15 19:55:47
- 文件大小:296K
- 下载次数:18
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简介:
通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,
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