赛默飞推出iCAP Qc ICP-MS 测定高纯氧化钼中Cd 等痕量杂质的解决方案

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:赛默飞色谱与质谱
  3. 上传时间:2015/3/27 14:44:44
  4. 文件大小:682K
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简介:

本方法将高纯氧化钼溶解于稀氨水中,采用iCAP Qc ICP-MS,分别采用高流量He 气碰撞和CCT 氧气反应模式测定,通过Qtegra 自动调谐功能,在Qcell 加入高流量的氧气反应,将MoO 转化为多氧化钼,将干扰质量数进行迁移,与Cd 测定同位素分开,从而消除干扰,以满足高纯氧化钼中镉的测定。

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