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锤子
准动态测量法测量块体、薄膜材料的 seebeck 系数和电阻率 - 热电参数测试系统（Namicro) )- 上海昊扩华东大区总代理
- 类别：分析方法/应用文章
- 上传人：昊扩科器
- 上传时间：2015/7/6 21:55:06
- 文件大小：610K
- 下载次数：7
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消耗积分 : 免积分
简介：
本仪器采用准动态法（具有专利技术）和四探针法分别测量样品的 seebeck 系数和电阻率。不仅可用于测量半导体块状样品，康铜、镍、铋等金属半金属样品，石墨、碳材料等非金属样品的seebeck 系数和电阻率，还可测薄膜（纳米）样品的 seebeck 系数和电阻率。
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