消耗积分 : 免积分
自从1992年G. Decher和其同事提出聚电解质多层膜的概念,这种多层膜就因其广泛的应用领域受到了极大的关注。而使用QCM-D这种测试质量精度到ng/cm2的仪器,聚电解质多层膜的自组装过程可以被实时的监测。此外,耗散值对于分析聚电解质多层膜的粘弹性和结构变化也被大量应该,比如监测高分子交联程度。
<< 查看更多
打开失败或需在电脑查看,请在电脑上的资料中心栏目,点击"我的下载"。建议使用手机自带浏览器。
QSense Omni 耗散型石英晶体微天平
百欧林
Attension Theta Flow 光学接触角测量仪
QSense High Pressure 高压石英晶体微天平
品牌合作伙伴
闪谱好礼超多进来抢
锤子