消耗积分 : 免积分
根据半导体工艺的需要,本文介绍了利用 SEM 分析工艺问题的方法。在形成成品之前,特别是工艺设计及加工制造阶段的失效分析及可靠性研究,能够在隐患转变为大面积工艺问题及后期性能参数问题之前,就能够提早定位并彻底解决,更为今后产品大规模量产及产品升级换代提供客观准确的科学依据。SEM 是其中的重要技术手段,尤其在线检测分析更是物尽其用。
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