消耗积分 : 免积分
波长色散X射线荧光仪(WD-XRF)可以 检测元素周期表中多达83种元素,测量 各种形态和性质的样品:例如固体或液体,导电材料或绝缘材料。相对于其他分析技术而言,X 射线荧光光谱分析法的优 点是分析速度快、制样简单、分析状态 稳定、精确度高,并且成份分析范围 广(从ppm级到100%含量)。
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