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锤子
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FT/IR-4000, 6000 series?? IRT-5000/7000 system?? * O2/N2 concentration measurement inside of Si wafer * Hydrogen??terminated evaluation on Si wafers * Quantitative/ Qualitative measurement of highly polymerized compounds ?? * Dynamic analysis of liquid crystal materials ?? * Reflectance of solar radiation on glass?? * Gas phase analysis ??
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