ASAP 系列仪器微孔分析时自由空间的测量

  1. 类别:其他资料
  2. 上传人:美国麦克仪器公司
  3. 上传时间:2015/11/13 10:15:37
  4. 文件大小:219K
  5. 下载次数:28
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简介:

许多微孔材料(例如分子筛,活性炭等。)在进行自由空间测量时,由于暴露在He气中几个小时,会将He 捕捉并保存在它们复杂的孔结构中,最终影响到分析低压区数据,在低压区出现S 型曲线。本文针对这种情况,给出了相应的解决方案,不仅罗列出相应的注意事项和需要采用的工具,还详细的描述了测试文件如何编辑和选择,并进行了举例说明。

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