《全反射X荧光分析技术(TRXF)》
- 类别:仪器样本
- 上传人:丹东通达科技
- 上传时间:2007/12/24 11:20:57
- 文件大小:84K
- 下载次数:315
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简介:
全反射X荧光分析技术,是一种在X荧光分析技术基础上发展起来的全新技术,其主要特征是通过反射技术去掉在通常X荧光分析中高能散射本底的影响,提高了分析灵敏度,分析刻度简单,分析样品量少(微克量级),设备简单,于八十年代中期开始出现商品。
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