X射线荧光光谱分析测定化探样品中34个主、次和痕量组分

采用粉末样品压片制样，用PANalytical PW2440\4400X射线荧光光谱仪对化探 样品中，氯、溴、硫、氧化钠、氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、磷、氧化钾、氧化钙、钛、锰、三氧化二铁、钴、铌、锆、钇、锶、铷、铅、钍、锌、铜、镍、钒、铬、钡、镧、铈、钕、钪、镓、砷、铪等34个组分进行测定。重点讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正及Cl测定的问题。使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应，经标准物质检验，分析结果与标样值吻合，用各元素含量较低的GBW07308国家一级标准物质作精密度试验，统计结果RSD(n=12) 除砷、钒、镍、铜 < 6.0%，溴、硫、铈、铪、钕、钪、氧化钠、镧、铬、钴和钍 < 14.00%以外，其余各组分均小于3.0%.