原子荧光光谱法讲座（33）—氢化物发生法中的干扰:1 干扰的分类

原子荧光光谱法讲座（33）

——氢化物发生法中的干扰

1 干扰的分类

Dedina曾对氢化物发生-原子吸收法中的干扰作了系统的分类，并指出，液体干扰产生在氢化物形成或形成的氢化物从样品溶液中逸出的过程中，它是由于氢化物发生速度的改变（发生动力学干扰）或者是由于发生效率的改变，即转化为氢化物的百分比的改变而引起的。气相干扰是氢化物传输过程中或在原子化器中产生，可分为传输过程干扰和原子化器中的干扰。

    传输过程的干扰发生在氢化物从样品溶液到原子化器的途中，包括分析元素氢化物的传输速度（传输动力学干扰）和损失（传输效率的干扰）所引起的干扰。

    原子化器中的干扰包括游离基（主要是氢基）数量及分析元素原子的衰减所引的干扰，其中产生游离基干扰的原因是干扰元素争夺游离基使其不够用来使分析元素原子化，产生分析元素衰减的原因是干扰元素加速了光路中游离的分析元素原子的衰减。

所谓“记忆性”干扰系指某种元素产生造成气相干扰之后，即使在以后的试液中不含该元素，干扰也继续存在，也即存在着“记忆”效应。Dedina提出的氢化物法干扰是目前较为系统和细致的分类，这种分类方法原则上也适用于氢化物发生-原子荧光光谱法。