FWS—1000型光谱仪同时测定工业硅、高纯硅中的铁、钙、磷、硼、钠、钛等十七个杂质元素
- 类别:分析方法/应用文章
- 上传人:北京丰益求实仪器有限责任公司
- 上传时间:2008/1/17 9:16:24
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简介:
FWS-1000型ICP-AES法同时测定
工业硅、高纯硅中Fe、Ca、P、B、Na、Ti等十七个杂质元素
摘要: 本文研究了ICP-AES法测定工业硅及高纯硅中杂质元素的具体测试方法,该方法对产品质量控制及检验杂质元素含量,具有可操作性和很好地应用价值。
关键词: ICP-AES、工业硅、高纯硅、杂质元素测定
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