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相位多普勒干涉仪(PDI)是一种通过测量激光光束被运动的粒子散射时,散射光产生的多普勒频移,以及穿透粒子或被粒子反射的光线产生的光程差(相位差)来测量被散射粒子的运动速度和粒子粒径的设备。William D. Bachalo 博士在 1980年发明了相位多普勒干涉仪(PDI)技术[1]。这一技术具有同时测 量粒子粒径和运动速度的功能,而且能够连续记录被测对象速度和粒径随时间的动态变化。PDI 发明伊始,便受到了喷射,流体,燃烧领域研究者的广泛重视。Dr.Bachalo具有敏锐的商业意识。发明PDI不久,就创利了公司,致力于PDI测量系统的商业化产品开发。
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