PROFILE ICP用于测定二次盐水痕量杂质
- 类别:分析方法/应用文章
- 上传人:利曼中国
- 上传时间:2008/2/27 18:07:19
- 文件大小:136K
- 下载次数:248
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消耗积分 : 免积分
简介:
由于高浓度NaCl的影响,准确测定二次盐水中的痕量杂质只能使用标准加入法。下面的方法主要针对Leeman Labs公司的Profile,Profile Plus垂直型ICP-AES。
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