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锤子
利用XPS和二次离子质谱仪（SIMS）进行材料表面表征
- 类别：分析方法/应用文章
- 上传人：北京英格海德
- 上传时间：2005/3/13 21:54:21
- 文件大小：687K
- 下载次数：1012
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简介：
文章介绍了利用XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy）和SIMS（Secondary Ion Mass Spectrometry）进行多层材料的结构和组成分析。实验方法有很多值得广大材料研究者借鉴之处。
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