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锤子
通过低能离子减薄仪制样方法提高透射电镜TEM分辨率
- 类别：分析方法/应用文章
- 上传人：巨力科技
- 上传时间：2008/4/1 17:44:38
- 文件大小：1870K
- 下载次数：379
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消耗积分 : 免积分
简介：
新一代SEM（扫描电镜）、TEM（透射电镜）、XTEM（X透射电镜）和FIB（聚焦离子束）样品制备设备：低能离子减薄仪！ 常规的离子减薄仪离子源能量较大，非常容易破坏样品的微观结构，而且很难看到材料真实的自然状态下的纳米结构； 而该设备采用低能离子源，在有效避免样品的微观结构被损伤的基础上，大大提高了电镜图片的清晰度，进而可以更为清楚的将材料自然状态下的微观结构展现出来。
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