AccuTOF DART系统的峰形校正和分子式测定

结合创新的大气压离子化技术和高分辨飞行时间（TOF）质谱的AccuTOF DART系统[1]，是未知化合物识别的有利工具。尽管系统具有相对较高的质量准确度，但仅仅依靠质量准确度用于分子式筛选，很难得到唯一的分子式。MassWorks sCLIPS的峰形校正能大大提高仪器唯一识别未知物的能力，而且在存在干扰的情况下不需要额外校正也能很好识别。 这篇应用文章通过来自AccuTOF DART系统的一个实例，显示了TOF MS峰形校正对于分子式识别的重要性，说明不使用内标或外标，利用MassWorks sCLIPS（自校正线形谱图同位素轮廓搜索）对于分子式检测的可行性。 MassWorks sCLIPS不需要内标或外标校正标样，通过利用未知物本身的同位素离子进行关键的峰形校正。峰形校正结合在AccuTOF DART系统上已经得到的高质量准确度，实现了分子式的唯一识别，大大增加了仪器使用的方便性。增加的混合物搜索和交互式谱图叠加功能，允许用户查看校正和理论计算谱图的匹配程度，对于任何存在的质谱干扰提供有价值的信息，也可以在分子式测定过程中包含和排出某些元素。