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CMI900X荧光镀层测厚仪 仪器介绍: CMI900荧光X射线镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。用于电子元器件,半导体,PCB,FPC,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器,端子,卫浴洁具,首饰饰品……多个行业表面镀层厚度的测量 主要特点 : 样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围:Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素 精度高、稳定性好 强大的数据统计、处理功能 测量范围宽 NIST认证的标准片 全球服务及支持 如有任何需要请按以下资料联络我公司,我们将为你提供快速优质的服务。 联系人: 单光辉 手机:15820409012 E-mail: guang222hui@163.com
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