用原子力显微镜研究金属表面机及其微结构

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:Bruker Nano Surfaces
  3. 上传时间:2008/6/27 16:56:47
  4. 文件大小:521K
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简介:

Reliable, localized measurements of microstructural parameters are of great relevance for developing new alloys, and for quality control in manufacturing processes. AFM provides unique capabilities relative to other microscopies, including; superior resolution, 3D measurements, little or no sample/substrate preparation, and operation in ambient air or liquid. AFM also enables the study of the origin and the mechanism of plastic deformations, including fracture, on the micrometer and nanometer scales.

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