CMI900测厚仪

CMI900（非接触式） CMI900 镀层测厚仪特点：  精度高、稳定性好  强大的数据统计、处理功能  测量范围宽  NIST 认证的标准片  全球服务及支持 技术参数: X 射线激发系统  垂直上照式 X 射线光学系统  空冷式微聚焦型 X 射线管， Be 窗  标准靶材： Rh 靶；任选靶材： W 、 Mo 、 Ag 等  功率： 50W(4-50kV ， 0-1.0mA) －标准  75W(4-50kV ， 0-1.5mA) －任选  装备有安全防射线光闸  二次 X 射线滤光片： 3 个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器程控交换系统  最多可同时装配 6 种规格的准直器  多种规格尺寸准直器任选：  －圆形，如 4 、 6 、 8 、 12 、 20 mil 等  －矩形，如 1x2 、 2x2 、 0.5x10 、 1x10 、 2x10 、 4x16 等 测量斑点尺寸  在 12.7mm 聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为： 0.078 x 0.055 mm ( 使用 0.025 x 0.05 mm 准直器 )  在 12.7mm 聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为： 0.38 x 0.42 mm ( 使用 0.3mm 准直器 ) 样品室  CMI900----开槽式样品室  CMI950----开闭式样品室 基本分析功能  采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。  样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体 ( 镀液中的元素含量 )  可检测元素范围： Ti22 – U92  可同时测定 5 层 /15 种元素 / 共存元素校正  贵金属检测，如 Au karat 评价  材料和合金元素分析  材料鉴别和分类检测  液体样品分析，如镀液中的金属元素含量  多达 4 个样品的光谱同时显示和比较  元素光谱定性分析 调整和校正功能  系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移 测量自动化功能  鼠标激活测量模式： “Point and Shoot”  多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式  测量位置预览功能  激光对焦和自动对焦功能 样品台程控功能  设定测量点  连续多点测量  测量位置预览 ( 图表显示 ) 联系方式 电话：+86-21-6401 9105/ 6401 9297-8001 手机：(0)1347 2500 600 (朱先生) 传真：+86-21-6401 9105-8088 邮箱：steven.zhu@worldwide-china.com 网址：www.worldwide-china.com 邮编：201103 地址：上海市闵行区宜山路2016号合川大厦10楼EF座