X射线荧光分析仪

产品介绍 第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪，采用世界上最先进的硅SIPIN探测器（分辨率为150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管，最大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距，从而在较低的电压下达到同样的激发效率，同时减少了漫射光的干扰，大大地提高了灵敏度和读数的准确性，重复性。 产品特点 1、在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。 2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰， 从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。 3、当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由 此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。 4、逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素 的含量较高(能量也会相应的较高)，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量 值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。 5、在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。 技术参数 　 分析原理:能量色散X射线荧光分析法 分析元素:Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型） Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型） 检出下限:Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm 样品形状:最大460×380mm(高150mm) 样品: 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体 样品室气氛:大气 X射线管 靶材:Rh 管电压:最大50KV 管电流:最大1mA X射线照射径:1/3/5mm 防护:＜0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕） 检测器:硅SIPIN探测器 光学图像观察:倍率15倍 软件:定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移） 照射径：1/3/5mm 定量分析：基础参数法/标准法/1点校正 计算机 CPU PentiumIV1.8GHz以上 内存 256MB以上 硬盘 20GB以上 OS WindowXP 监视器 17寸LCD 周围温度 10～35。C（性能温度）/5～40。C（动作温度） 周围湿度 5～31。C时温度范围：最大相对湿度80%以下 /31～40。C时温度范围：相对湿度50%以下 电源 AC110V/220V±10%、50/60HZ 消耗电力 1.3KVA以下（含计算机、LCD、打印机） 设备重量 约65kg(不含桌子、计算机） 外形寸法 600（W）×545（D）×435（H）mm 应用领域家电、电子、玩具、休闲和运动设备、自动售货机等