消耗积分 : 免积分
光子晶体光纤的生产中对光纤小孔的尺寸控制尤其重要,其严重影响着该光纤的性能。利用飞纳台式扫描电镜和其孔径统计分析测量系统可在生产流程中快速识别光纤中的孔洞,在低倍和高倍下孔洞边缘均可以识别准确清晰,并直接给出孔洞的面积,长轴,短轴,长宽比,平均直径等参数,为得到高质量的光子晶体光纤提供有力保障。
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