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锤子
利用FT150h测量陶瓷芯片部件中Sn/Ni 双层膜
- 类别：分析方法/应用文章
- 上传人：日立仪器
- 上传时间：2016/5/16 16:47:50
- 文件大小：347K
- 下载次数：4
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简介：
FT150h配备了新型聚光光学系以及升级后的Vortex?检测器，对于从前机种难以测量的微小范围，实现了同时高精度测量更厚的Sn与它下面的Ni，此份资料中介绍了针对陶瓷片式原器件的疑似样品，Ag上的Sn/Ni双层膜的同时测量的案例。
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