微焦点X射线成像系统
- 类别:分析方法/应用文章
- 上传人:安赛斯
- 上传时间:2016/6/14 10:44:37
- 文件大小:1755K
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简介:
X射线设备可以满足大多数电子零件的微米及纳米检测需求,在预生产前期,可以对样件进行X射线扫描,及时发现不合格的零件,扫描结果形成检测报告作为客观参考,以此改进生产工艺;在产品召回后期,对于结构复杂的零件,X射线可以进行筛选排查,把不合格的产品剔除,做到最大程度的挽回损失。
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