使用FT150测量片式元器件电极膜厚

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:日立仪器
  3. 上传时间:2016/7/5 10:29:22
  4. 文件大小:351K
  5. 下载次数:3
  6. 消耗积分 : 免积分

收藏

简介:

智能手机或车载电脑等使用的片式元器件,由于产品的小型化和多功能化,更加追求高密度的安装,部件本身也变得越来越小。它们中电极部分使用Sn和Ni双层膜的情况较多,因此对其膜厚管理的追求也越高。FT150系列配备了新型聚光光学系以及升级后的Vortex?检测器,可实现对今后越来越小型化片式元器件的电极部膜厚的高精确度Ni/Sn的同时测量。此份资料中,介绍了使用FT150对陶瓷片式元器件冷凝器的Ni/Sn层进行膜厚测量,之后更进一步确认对样品断面研磨后的电极部膜厚案例

打开失败或需在电脑查看,请在电脑上的资料中心栏目,点击"我的下载"。建议使用手机自带浏览器。

  • 注意:
  • 1、下载文件需消耗流量,最好在wifi的环境中下载,如果使用3G、4G下载,请注意文件大小
  • 2、下载的文件一般是pdf、word文件,下载后如不能直接浏览,可到应用商店中下载相应的阅读器APP。
  • 3、下载的文件如需解压缩,如果手机没有安装解压缩软件,可到应用商店中下载相应的解压缩APP。