您还有0次抽奖机会
锤子
消耗积分 : 免积分
快速测量计算扩散层薄层电阻、结深和表面浓度 全自动电化学CV 分布仪 CVP21 简介: 本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过 程并且以被使用在多种不同的材料上, 例如:Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP 21 的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率,准确的测量 半导体材料(结构,层)中的掺杂浓度分布.选用合适的电解液与材料接触,腐蚀,从而得 到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制
打开失败或需在电脑查看,请在电脑上的资料中心栏目,点击"我的下载"。建议使用手机自带浏览器。