快速测量计算扩散层薄层电阻、结深和表面浓度 硅太阳能电池纵向载流子浓度分布测试

  1. 类别:招标文件
  2. 上传人:瞬渺
  3. 上传时间:2017/5/4 10:38:32
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简介:

快速测量计算扩散层薄层电阻、结深和表面浓度 全自动电化学CV 分布仪 CVP21 简介: 本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过 程并且以被使用在多种不同的材料上, 例如:Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP 21 的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率,准确的测量 半导体材料(结构,层)中的掺杂浓度分布.选用合适的电解液与材料接触,腐蚀,从而得 到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制

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