金属电子逸出功测定仪 NTP-W-Ⅲ

金属电子逸出测定仪/测定仪 型号：NTP-W-Ⅲ [仪器特点] 1、数据采集采用四块三位半数字表立显示，无需另接测量仪表，数据稳定确 2、实验器材面，采用优良接插件 [实验目的] 1、 了解热电子发射的基本规律 2、 用理查孙直线法测定金属钨电子的逸出 <或逸出电位 > 3、 研究二管的伏安特性 4、 用磁控条件测量电子荷质比 5、 学习避开某些不易测常数而直接得到结果的实验方法 [术参数] （1）数据采集：四块三位半数字表分别显示灯丝电流、阳电压、阳电流、磁控电流 （2）理想二管：纯钨丝 （3）灯丝电流：DC 0～0.750 A，连续可调，度：1mA，三位半数字显示 （4）阳电压：DC 0～199.9V，连续可调，度：0.1V，三位半数字显示 （5）阳电流：测量范围：0～1999uA，度：1uA，三位半数字显示 （6）磁控电流：DC 0～0.800 A，连续可调，度：1mA，三位半数字显示 （7）电源主机尺寸：330mm（W）×300mm（D）145（H）mm [仪器组成] 1、NTP-W-Ⅲ 金属电子逸出测定仪 电源主机 1台 2、金属电子逸出测试台（包含理想二管） 1台 3、理想二管磁控线圈 1只 4、实验连接线 8根 5、使用说明书 1本 6、产品合格证 1只 7、三相电源线 1根 8、保险丝（1A） 2只