单颗粒ICP-MS测定铁纳米粒子:利用通用池技术消除光谱干扰

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:PerkinElmer
  3. 上传时间:2017/7/21 14:48:50
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简介:

随着纳米颗粒兴趣的增加,各种测试方法正被应用。采用单颗粒模式电感耦合等离子体质谱法(SP-ICP-MS)分析金属纳米粒子成为最有前途的技术之一。由于其高灵敏度、易用性和分析速度快等特点,ICP-MS是一种理想的技术,用于检测纳米颗粒的特性:无机成分、浓度、尺寸大小、粒度分布和聚集等。ICP-MS分析挑战之一为干扰导致错误的分析结果。然而,这并非是一个问题,因为迄今为止大多数SP-ICP-MS应用均没有涉及到基体干扰或常规光谱干扰问题。例如,金和银纳米粒子在工业中应用较广,未受到常规干扰。另外,大多数纳米颗粒存在简单基体中,该基体几乎不产生干扰。随着纳米技术领域的拓展,分析需求增加,尤其是需要测定纳米颗粒中受干扰的元素,如扩展为其它受干扰的金属纳米粒子,如钛,铬,锌或硅。例如,由于零价铁纳米(ZVI)颗粒具有独特的化学特性和相对大的比表面积,使之更广泛应用于环境修复项目中。由于他们独特的性质,ZVI纳米粒子具有以下作用:去除有机溶剂中氯,转化肥料中有害化合物,降解杀虫剂和固定金属。然而,为监测ZVI颗粒,铁需被测定,因为存在基于等离子体产生的信号ArO+对同样质量数(56)铁的最高丰度同位素(56Fe+丰度91.72%)形成严重干扰。消除这种干扰的最有效方式是采用氨气作为反应气的反应模式ICP-MS。至今为止,已有的大多数SP-ICP-MS报道聚焦于无干扰的纳米粒子,而这种反应模式SP-ICP-MS还未被广泛使用。本工作将专注于证明在反应模式SP-ICP-MS下,NexION通用池技术应用于测定纳米粒子。

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