保圣科技TA.XTC质构仪测试饼干的硬度和脆裂性

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:保圣科技
  3. 上传时间:2017/7/25 17:18:05
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简介:

保圣科技TA.XTC质构仪测试饼干的硬度和脆裂性。TA.XTC质构仪配有三点弯曲探头(HDP/3PB),用TA.XTC质构仪测试饼干的硬度和脆裂性的原理是一旦TA.XTC质构仪探头的感应力达到,曲线开始表达出样品被探头下压过程的效果。曲线最大压力数值可以表达样品的破裂强度。其他可表明的数字还有:破裂距离和斜率。破裂距离表明样品的脆性,显示样品能抗多长距离后被破坏。斜率表明样品的硬度,斜率越高,硬度越大。

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