Avio 500 ICP-OES运用多谱线拟合矫正（MSF） 进行冶金行业微量元素测定

等离子发射光谱(ICP-OES)在冶金行业微量元素的准确定量中得以广泛应用，因为其简化了样品前处理，无需复杂的基体分离和元素富集，更不会引入其他干扰元素和杂质。同时样品不需要过量稀释而引入稀释误差。尽管有如此多的优点在先，其在该领域运用也有不可规避的挑战：光谱干扰。许多基体有非常复杂的发射谱线，例如铁有2000条谱线，这就增加了元素间谱线干扰的可能。在冶金行业，因微量元素含量低，稀释倍数受限，所以其基体的光谱干扰就变得尤为突出。虽然目前有多种消除干扰的数据处理方法，PerkinElmer公司专利的多谱线拟合矫正（MSF）技术是最强大和易操作的。对于多谱线拟合矫正方法有过很详细的介绍，见参考文献1. 简而言之，多谱线拟合就是通过已知的空白、目标元素和干扰元素谱图叠加而拟合出一个无干扰状态的峰型。该消除干扰方式包含了所有的光谱信息，与积分背景点、积分点数等无关。 本文利用Avio 500 等离子体发射光谱仪对最具挑战性的冶金样品进行分析，通过多谱线拟合（MSF）矫正技术以得到更加准确可靠的测量结果。