锤子
消耗积分 : 免积分
等离子发射光谱(ICP-OES)在冶金行业微量元素的准确定量中得以广泛应用,因为其简化了样品前处理,无需复杂的基体分离和元素富集,更不会引入其他干扰元素和杂质。同时样品不需要过量稀释而引入稀释误差。尽管有如此多的优点在先,其在该领域运用也有不可规避的挑战:光谱干扰。许多基体有非常复杂的发射谱线,例如铁有2000条谱线,这就增加了元素间谱线干扰的可能。在冶金行业,因微量元素含量低,稀释倍数受限,所以其基体的光谱干扰就变得尤为突出。虽然目前有多种消除干扰的数据处理方法,PerkinElmer公司专利的多谱线拟合矫正(MSF)技术是最强大和易操作的。对于多谱线拟合矫正方法有过很详细的介绍,见参考文献1. 简而言之,多谱线拟合就是通过已知的空白、目标元素和干扰元素谱图叠加而拟合出一个无干扰状态的峰型。该消除干扰方式包含了所有的光谱信息,与积分背景点、积分点数等无关。 本文利用Avio 500 等离子体发射光谱仪对最具挑战性的冶金样品进行分析,通过多谱线拟合(MSF)矫正技术以得到更加准确可靠的测量结果。
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