基于成像光谱技术对苹果斑点及损伤快速识别研究

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:卓立汉光
  3. 上传时间:2017/7/31 15:24:50
  4. 文件大小:606K
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简介:

采用高光谱图像技术检测苹果的黑白斑区域及损伤区域,以实现苹果黑白斑、损伤区域快速识别的目的。 运用高光谱成像技术,运用最小噪声分离、植被指数等方法等,均可有效地识别水果损伤与斑点区域,但最小噪声分离方法较为复杂,运算速度较慢,不适合在工业生产上进行应用,而植被指数算法简单,仅利用2个波段进行四则运算即可实现水果损伤和斑点的快速识别。

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