金相分析显微镜

正置金相显微镜采用平场消色差光学系统和落射式柯拉照明系统，同时在落射照明系统中设计防反射结构，有效防止反射光干扰成像光线，从而使成像更清晰、视场衬度更好。 性能特点： ■提供稳定可靠的操作机构,使成像更清晰,操作更简便。 ■显微镜镜体采用全新的人机工程学设计，结构匀称，实现镜体扩展积木化。 ■工作台、光强与粗微调的低位操作，提高了使用的舒适性。 ■广泛应用于各类半导体硅晶片检测、材料科学研究、地质矿物分析及精密工程等学科领域。 产品型号 XK-200 光学系统 有限远色差校正光学系统 观察筒 铰链式双目，30°倾斜，360°旋转，瞳距调节范围：54-75mm， 双边±5屈光度可调；铰链式三目，固定式分光比， 双目:三目=80%:20% 目镜 PL10X高眼点平场目镜，线视场 18mm 物镜 长工作距平场消色差金相物镜5X、10X、20X、50X 偏光系统 简易偏光 转换器 内定位五孔转换器 调焦机构 粗微调同轴，带机械上限位和松紧调节装置, 粗调行程28mm，微调精度0.002mm 载物台 双层机械移动平台,附设180X145mm平板平台, 移动范围：76mmX50mm 反射照明系统 反射式柯拉照明 高照度LED芯片照明器 光强连续可调,带可变孔径光阑与视场光阑,视场光阑中心可调。 摄影装置 摄影接筒（带PK卡口），3.2X摄影目镜 摄像装置 1.0X C型摄像接筒 透射照明器 6V30W透射照明系统