用于NexION ICP-MS 的全基体进样系统（AMS）

PerkenElmer 历来以设计和制造耐用性强、适合于高固溶含量样品的ICPMS系统而著称。正是由于NexION 系列ICP-MS 采用独一无二的三锥接口（TCI）技术和新一代90°四极杆离子偏转器（QID）的设计，使其对于高基体样品具有特殊的超强耐受性。即便如此，某些类型的样品出进样系统的考虑，仍会在分析前进行一定的稀释。稀释有助于减小基体抑制和减少长时间分析时样品在锥上的沉积。为降低环境样品或其他高溶解固体含量样品在分析前稀释的必要性，PerkenElmer 提供了适用于NexION 系列ICP-MS(2000/350/300) 的全基体进样系统（AMS）。这套系统（见图1）包含一个耐高盐雾化器和一个带有氩气稀释气接口的雾室。稀释气的流速由独立的氩气通道控制，气流方向与雾化气流向垂直，以获得最佳的混合效果。稀释操作的要点是在 保持通入炬管的总流速不变的情况下，调节雾化气和稀释气的比例，以此决定稀释倍数。如图2 所示，铟元素强度随着雾化气/ 稀释气流速比呈线性变化，证明了通过对两路气流速的调节，可获得高达200 倍的稀释比，避免了离线手工稀释的繁琐操作和随之而来的污染和误差。对于不需稀 释的样品，只需将稀释气关掉，无需取下稀释气管路。借助AMS 系统，对无需稀释的样品和需要稀释200 倍以内的样品分别进行分析之间，无需对仪器再次进行参数优化。