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锤子
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本方法使用 contrAA® 直接进行铜和黄铜制品中 P, Sn, Si, 和Zn 的测定。 样品的光谱背景在分析线上被同时直接地校正了。方法建立简单,且可以清晰地分辨出由复杂基体可能产生的光谱干扰,也就是说用高分辨分光系统进行分析没有干扰。为此,谱线的选择 仅取决于待分析的元素及其含量(高浓度样品无需稀释),如黄铜中的锡分析。
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