HORIBA AFM-Raman / TERS/ SNOM纳米世界的光谱解决方案

随着扫描探针显微镜（SPM）在二十世纪八十年代的出现，大气环境中的纳米尺度成像成为了可能。该技术使材料表面各种物理特性的表征得以快速持续发展，然而如何实现无标记的化学结构表征仍是一项挑战。 在过去的几十年里，光学光谱已经成为纳米材料分析的有力工具，它为分子结构和化学组分分析提供了独特的方法。不过，这种方法的空间分辨率在很大程度上受限于光学衍射极限。于是，将两种技术联用成为一种极富吸引力的独特方法，不过要将两种仪器集成起来极具挑战。 在该领域，HORIBA Scientific通过几十年的经验积累和努力，与AIST-NT合作开发出了一套整体方案，使其成为一个通用且功能强大、使用简便、快速可靠的分析工具。