粉末衍射分析在高聚物结构参数测定中的应用

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:深圳莱雷
  3. 上传时间:2017/11/18 14:44:46
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简介:

x射线衍射在高聚物研究中的应用非常广 泛,主要有两个方面:其一是高聚物材料的相 分析,包括高聚物材料本身和各种添加剂的物相分 析;其二是聚集态结构参数的测定,如聚合物结晶度 和取向度的测定、晶粒尺寸测定等。其它的应用还 有应力测定、x射线小角散射分析等。对于薄膜、纤 维等样品需要专门的薄膜、纤维、拉伸等附件。

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