X射线荧光光谱法测定铝用碳素材料中微量元素

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:zdj0521
  3. 上传时间:2008/12/12 16:39:22
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简介:

采用粉末压片法制样,选用预焙阳极、石油焦标准样品,采用X 射线荧光光谱法对样品中的S,V,Si,Fe,Na,Ca,Ni,Ti,Al,P,Pb,K,Mg,Cl,Mn,Cr,Cu,Zn等元素进行测定。讨论了样品研磨时间、粒度对测量强度的影响、光谱背景、元素间谱线重叠干扰和基体效应。

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